動態定位(Dynamic Alignment,簡稱DA)是一種在半導體製造設備中使用的先進偵測技術,主要用於判斷晶圓(wafer)在傳送過程中是否發生滑動,進而防止因位置偏移而導致產品位置不正確的問題。以下是 DA 功能的詳細描述:
- 偵測滑動: DA 系統通常使用光學或雷射感應器來實時監控晶圓的位置。當傳送過程中發現晶圓發生滑動時,DA 系統能夠立即偵測到並發出警報。
- 位置偏移修正: 一旦 DA 感測到晶圓的位置發生變化,系統會啟動相應的補償機制,以修正晶圓的位置。這可以通過調整傳送系統中的載具或轉台來實現,確保晶圓按照預定的路徑移動。
- 即時反饋: DA 系統能夠提供即時的反饋訊號,通知控制系統晶圓的實際位置。這有助於實現實時的適應性控制,確保晶圓在整個製造過程中保持準確的位置。
- 提高製程穩定性: 通過頻繁且精確的晶圓位置監測,DA 系統有助於提高製程的穩定性。這對於需要高精度位置控制的製程,如曝光、蝕刻和沉積等步驟,尤為關鍵。
- 防止製品缺陷: DA 的主要目的是防止晶圓在製程中發生位置偏移,進而防止因此而引起的製品缺陷。這對於製造高度集成的半導體元件尤其重要,因為即使微小的位置偏移也可能導致元件性能不正確。
DA sensor (Dynamic Alignment)在機台上的應用
1.1 DA sensor 是什麼功能?
VTM傳送的”動態校正”,VTM傳送時,當wafer 有偏移,可即時偵測到,並做適度的補償,以避免wafer 滑落導致破片損失。
1.2 DA 偵測哪些位置?
VTM 有6組 DA sensor,分別在PM1,PM2,PM3,PM4,Airlock1,Airlock2,每個位置有兩顆sensor,如下圖1,
1.3 DA sensor在機台的位置?Airlock1下方的柱子上
1.4 常見alarm 處理步驟
1.2.1 現場確認wafer 位置是否準確
1.2.2 Alarm – 1)選continue. (該片要傳送時,才會跳出下一個alarm
1.2.3 Alarm – 2)判斷補償,with or without compensation
1.2.4 Alarm – 3)確定 “YES”